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接触式探针系統
1. 量测高度:利用量测头可以量测高度的特性来量测工件表面的高度差;
2. 量测球体、柱体:利用量测头的多方向点接触可量测到影像量测仪量不到的位置;
3. 量测平面度:利用量测头可以量测高度和速度快的特性来快速量测工件表面的平面度。
产品简介
接触式探针系统可以选购添加在Micro-Vu影像系统中,以构建复合传感器量测系统,辅助影像量测仪完成一些特殊尺寸的量测。利用探针接触感应来量测工件侧面,底面以及平面的尺寸。
Micro-Vu 接触式探针组包含了用来构成垂直式和多测针式(星型)二种探针配置的组件。
垂直探针使用一支3mm(球径)x20mm(长度)测针搭配20mm(长度)延长杆和一个探针侧头。
多测针式探针使用四支3mm(球径)x20mm(长度)测针安装在一个五向测针座上,五向测针座中心再组合一支30mm(长度)延长杆,然后再结合到探针侧头。
技术参数

模组

SF-标准测力

MF-中测力

EF-高测力

圖片

應用

适合大多数应用场合

需要高于标准测力的场合

大直径/偏重测针元件或机器振动造成误触发的场合

测力

XY: 0.08N
Z: 0.75N
测针: 10mm

XY: 0.1N
Z: 1.9N
测针: 25mm

XY: 0.1N
Z: 3.2N
测针: 50mm

测针長度

10-50mmGF

10-60mm

10-60mm

适用机型

For Vertex

For Vertex & Excel

For Excel

*根据客户实际需求选购


机台应用案例:视频111,复合传感器量测,-Vertex 311结合探针量测Micro-Vu 3D样品工件

jiechu.flv
视频介绍